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    ECM-100离子迁移测试装置

    离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压( BIAS VOLTAGE ), 经过长时间的测试(1 ~1000  小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生( ION MIGRATION ), 并记录电阻值变化状况,故又叫做 CAF试验,绝缘阻力电阻试验,或者是 OPEN/SHORT 试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。( ION MIGRATION TESTING )

    在高温高湿条件下,对电子零部件以及印刷电路板的绝缘部分测试电阻值,也能够进行高效率的绝缘可靠性评估。

    适用规格 : JPCA- - ET01- - 2001


    产品优势  

     

    简单/便利

    △采用高端驱动计测,测试时焊接工序大幅减少。

    △软件设计简单明了,能够非常直观得操作。

    △配有过程中的记录、报告相关的报表功能。

    △测试中,设备可以单独运行,电脑电源切断也不受影响。

     

    高性能&高机能

    △因为每个通道都单独配有电压/计测电路,可以做到16ms的计测间隔。

    →迁移现象的检测能力更高,对产品品质把控更精准。

    △一台电脑最大可以增设400通道。

    △每个通道可以设定不同的电压。

     

    可靠性更高&操作更简洁

    △具有自身诊断机能,把异常计测防范于未然。

    △配有CF卡,以防设备故障数据丢失。

    △每个单元独立,其中一个单元损坏,可以单独拆卸维修,而不影响其他通道使用。

    △标准配置也可以接入1~300V的电压范围。

     

    用途

    PCB板、焊接、树脂、导电性粘着剂、绝缘材料等电迁移测试。

    △作为高性能/多通道绝缘电阻测试装置,可以在多领域利用。

     

    实例

    △测试难度大的高阻值也能除去干扰,清晰得进行测试。

    16msec的高速抽样处理,不会漏掉任何一个数据。

    △电容器等绝缘电阻的试验也非常合适。


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    产品关键词:离子迁移测试、CAF测试、绝缘电阻值检测、离子迁移检测设备、CAF设备、CAF试验、CAF测试方法、Conductive Anode Filaments

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