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      ECM-100離子遷移測試裝置

      離子遷移實驗裝置是一種信賴性試驗設備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ), 經過長時間的測試(1 ~1000  小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生( ION MIGRATION ), 并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF試驗,絕緣阻力電阻試驗,或者是 OPEN/SHORT 試驗,我們將其統稱為絕緣劣化試驗。( ION MIGRATION TESTING )

      在高溫高濕條件下,對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值,也能夠進行高效率的絕緣可靠性評估。

      適用規格 : JPCA- - ET01- - 2001


      產品優勢  

       

      簡單/便利

      △采用高端驅動計測,測試時焊接工序大幅減少。

      △軟件設計簡單明了,能夠非常直觀得操作。

      △配有過程中的記錄、報告相關的報表功能。

      △測試中,設備可以單獨運行,電腦電源切斷也不受影響。

       

      高性能&高機能

      △因為每個通道都單獨配有電壓/計測電路,可以做到16ms的計測間隔。

      →遷移現象的檢測能力更高,對產品品質把控更精準。

      △一臺電腦最大可以增設400通道。

      △每個通道可以設定不同的電壓。

       

      可靠性更高&操作更簡潔

      △具有自身診斷機能,把異常計測防范于未然。

      △配有CF卡,以防設備故障數據丟失。

      △每個單元獨立,其中一個單元損壞,可以單獨拆卸維修,而不影響其他通道使用。

      △標準配置也可以接入1~300V的電壓范圍。

       

      用途

      PCB板、焊接、樹脂、導電性粘著劑、絕緣材料等電遷移測試。

      △作為高性能/多通道絕緣電阻測試裝置,可以在多領域利用。

       

      實例

      △測試難度大的高阻值也能除去干擾,清晰得進行測試。

      16msec的高速抽樣處理,不會漏掉任何一個數據。

      △電容器等絕緣電阻的試驗也非常合適。


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      產品關鍵詞:離子遷移測試、CAF測試、絕緣電阻值檢測、離子遷移檢測設備、CAF設備、CAF試驗、CAF測試方法、Conductive Anode Filaments

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