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        HVUα_2000V離子遷移實驗裝置

        離子遷移實驗裝置是一種信賴性試驗設備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ), , 經過長時間的測試(1 ~1000  小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生( ION MIGRATION ), , 并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF  試驗,絕緣阻力電阻試驗,或者是 OPEN/SHORT 試驗,我們將其統稱為絕緣劣化試驗。( ION MIGRATION TESTING )

        在高溫高濕條件下,對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值,也能夠進行高效率的絕緣可靠性評估。

        適用規格 : JPCA- - ET01- - 2001


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